Re: Как тестируют память с ECC?
От: Pzz Россия https://github.com/alexpevzner
Дата: 16.09.25 06:49
Оценка: 1 (1)
Здравствуйте, cppguard, Вы писали:

C>Если я правильно понимаю, то единственная причина появления технологии ECC это частицы с высокой энергией, который могут инвертировать бит памяти.


Скорее, дефекты кристалла, приводящие к повышенным утечкам заряда с конденсаторов, из которых состоят ячейки памяти. Плюс, говорят, у современных чипов соседние ячейки могут влиять друг на друга, и можно подобрать удачный паттерн обращения к памяти, на котором это проявится.

C>Но как это воспроизвести для тестов?


А ECC разве прямо в чип памяти интегрированно, а не идёт отдельным кристаллом?

Ну и в любом случае, всё на 100% не оттестируешь.
 
Подождите ...
Wait...
Пока на собственное сообщение не было ответов, его можно удалить.